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Ground Support Equip. - 반도체 열충격 사이클 시험장비

반도체 열충격 사이클 시험장비

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제품요약 전력소자가 고온과 저온을 장기간 반복할 때 발생하는 변화(결함)을 측정하는 시스템

 

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  •  

  1. ​​전력소자가 고온과 저온을 장기간 반복할  때 발생하는 변화(결함)을 측정하는 시스템 으로 이는 패키지의 열 설계에서 매우 중요한 요소임

  2. 우수한 성능의 H/W Labview S/W 이용한 전력소자의 개발단계부터 응용분야에서 폭넓게 사용 가능
     

  • 성능 및 특징

  1. 제어부의 내장형 및 외장형 IPM 동시시험 가능

  2. IGBT 전류공급용 P/S, V/I sensor,

  3. SW Module를 최대한 DUT에 가깝게 구성하여 노이즈 제거

  4. 강력하고 효율적인 냉각(공랭식시스템 적용

  5. 다채널 전력반도체(IGBT, FET)를 동시 또는 독립적 시험가능
     

  • 피시험 장비

    반도체 전력 소자등


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